赤外線カメラを使った非破壊検査は、文字通り内部構造がどのようになっているのかを調べる時に用いる検査手法です。しかし、非破壊検査と言ってもそのやり方は幾つかあり、それぞれの特徴に応じて使い分けが行われています。非破壊検査の中でも一般的なやり方になるのがアクティブ法です。アクティブ法は検査対象物に対して、積極的に温度負荷を与える方法で、この時赤外線カメラで対象物を捉えると、温度が高い場所は赤くなり、温度が低い部分は青くなるなどの特徴を持ちます。
但し、アクティブ法には温度波法と電圧印加法などの手法があり、それぞれの特徴は異なります。温度波法は、被測定物にキセノンフラッシュランプと呼ばれている加熱用ランプを照射する手法です。加熱用ランプを当てた状態で赤外線カメラで測定を行い、剥離やボイドなどの欠陥部分を検出します。尚、加熱ランプから熱を与えた場合、被測定物を通過する際に、健全部と欠陥部では熱拡散率に差が生じている場合は、温度差と透過時間の位相差が生じることになります。
この位相差や温度差を二次元表示させて、欠陥部分を可視するのが特徴です。電圧印加法の場合は、被測定対象部に対して、周期的に電圧を印加し続け、それを赤外線カメラで測定する手法です。電極面の欠陥などが原因で、充電することが出来ない部分がある場合、欠陥部の温度変化が健全部よりも小さくなるのが特徴です。ちなみに、この手法は二次電池や電子部品などの発熱解析、欠陥検出などに向いていると言います。